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2024-11-09 2025-06-26 2024-12-07 2024-11-13 2024-10-17 
晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，为晶圆、碳化硅、硅片、封装测试等生产和品质监控，提供一整套完整测试和解决方案。
产物型号：厂商性质：生产厂家更新时间：2025-06-26访&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;问&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;量：659
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专注于非接触式半导体计量分析技术的开发和生产 ，攻克被国外卡脖子技术。
产物广泛应用于半导体、光伏、科研以及平板材料测试领域。借助公司*计量分析测试技术，为晶圆、碳化硅、硅片、封装测试等生产和品质监控，提供一整套完整测试和解决方案。
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一、
晶圆电阻率测试仪
硅片方阻测试仪
涡流法低电阻率分析仪
晶锭电阻率分析仪
非接触少子寿命
参数 | 方阻 | 电阻率（厚度180耻尘） | 方法 | |
探头量程 | 1-600Ω/¨ | 0.018-10.8 Ω?cm | 涡流法 | |
探头性能 | 动态重复性 | 静态重复性 | 示值误差 | |
1-80Ω/¨（0.018 - 1.44Ω?cm） < 0.2% | <0.01% | ±1% | ||
80-120Ω/¨（1.44 - 2.16Ω?cm） < 0.3% | ||||
120-300Ω/¨（2.16 - 5.4Ω?cm） < 0.5% | ||||
300-600Ω/¨（5.4 - 10.8Ω?cm）< 1% | ||||
外形尺寸 | 上探头Ф20*145尘尘 | 下探头Ф20*50尘尘 | ||
信号采集 | 采样率：1500Sps | |||
采样个数：512点/单次 | ||||
采样缓存：8级数据记录缓存 | ||||
数据传输：RS232 RS485CANTCP/IP | ||||
传输协议：Modbus Rtu/ Modbus Tcp 用户自定义协议等 | ||||
供电电源 | 24V/1A | |||
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